专利名称：基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校
正方法
专利类型：发明专利
发明人：孙浩,周晓斌,文江华,刘召庆,原琦,张衡,吴妍,金明鑫,
吴奉泽
申请号：CN202010942615.1申请日：20200909公开号：CN112068322A公开日：20201211
摘要：本发明公开了一种基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正方法，一、利用双激光位移传感器测角原理，测量被校正探测器侧平面调整偏角；二、多次测量侧平面调整偏角及探测器输出图像中十字中心偏移量，建立两者之间的数学模型；三、通过图像处理算法求得探测器输出图像中十字中心与靶标偏差量，带入探测器侧平面调整偏角与图像十字中心偏移量数学模型中求得探测器侧平面偏角调整量；四、调整长圆孔量使双激光位移传感器测角系统数显值与所求得偏角调整量一致即完成该探测器光轴平行性校正。本发明方法量化了光轴校正中长圆孔调整量，校正过程可视化易于操作，校正精度高并可记录偏角调整量，用于之后拆卸复装无需再次校正。
申请人：西安应用光学研究所
地址：710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号
国籍：CN
代理机构：中国兵器工业集团公司专利中心
代理人：刘二格
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