一种涂层材质反射偏振特性分析方法及装置[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种涂层材质反射偏振特性分析方法及装置专利类型：发明专利

发明人：陈伟力,王淑华,陈艳,王广平,王静申请号：CN202011270277.8申请日：20201113公开号：CN112329256A公开日：20210205

摘要：本发明涉及一种涂层材质反射偏振特性分析方法及装置、计算机设备、计算机可读存储介质，该方法包括：根据涂层材质表面反射特性，确定双向反射分布函数并进行偏振化过程，得到涂层材质的偏振双向反射分布函数；根据得到的涂层材质的偏振双向反射分布函数和可见光反射偏振传输模型，求解对应的斯托克斯矢量表达式；根据斯托克斯矢量表达式，计算涂层材质反射偏振的偏振度及偏振角。本发明能够实现针对涂层材质表面的反射偏振特性仿真，且计算精度高。

申请人：北京环境特性研究所

地址：1008 北京市海淀区永定路50号

国籍：CN

代理机构：北京格允知识产权代理有限公司

代理人：张莉瑜

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