专利名称：一种荧光分析方法和装置专利类型：发明专利发明人：不公告发明人申请号：CN201210052167.3申请日：20120301公开号：CN103293134A公开日：20130911
摘要：本发明涉及一种荧光分析方法和装置，具体地，本发明公开了一种定量检测待测物的检测方法和基于所述检测方法的检测装置，所述方法采用本发明的测试片，所述测试片包括：(i)可加入样品的加样区；(ii)位于加样区近端的结合区；(iii)位于结合区近端和加样区远端的测试区；和(iv)位于测试区近端和结合区远端的样品吸收区。所述方法包括步骤：(1)将待测物样品加至本发明的测试片的加样区；和(2)测量所述测试片的测试区的荧光强度，从而换算为待测物的数量。所述方法快捷、简便、成本低廉，而且灵敏度高，定量准确。
申请人：庞磊
地址：201203 上海市浦东新区松涛路646号3楼
国籍：CN
代理机构：上海一平知识产权代理有限公司
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容